Анализатор оптических компонентов АКМЕТЕХ 6433

АКМЕТЕХ 6433 (LCA 6433) — высокоточный анализатор оптических компонентов, предназначенный для измерения характеристик электрооптических (E/O), оптоэлектронных (O/E) и оптических (O/O) устройств в широком диапазоне частот до 67 ГГц. Система применяется в фотонике, телекоммуникациях, разработке компонентов ВОЛС, научных исследованиях и производственном контроле высокоскоростных оптических устройств.

Анализатор позволяет проводить комплексное исследование амплитудно-частотных характеристик (АЧХ), фазочастотных характеристик (ФЧХ), групповой задержки, коэффициентов передачи и отражения, а также других параметров современных фотонных компонентов. Прибор используется для тестирования лазеров с прямой модуляцией, электрооптических модуляторов, высокоскоростных фотоприемников, оптических волокон, трансиверов и фотонных интегральных схем (PIC).

Серия включает несколько модификаций: 6433D (до 26,5 ГГц), 6433F (до 43,5 ГГц), 6433H (до 50 ГГц) и 6433L (до 67 ГГц). Поддерживаются конфигурации с двумя или четырьмя СВЧ-портами, что позволяет адаптировать систему под различные задачи исследований и испытаний.

Одним из ключевых преимуществ АКМЕТЕХ 6433 является упрощенная процедура калибровки и технология De-embedding, позволяющая исключать влияние измерительного тракта на результаты тестирования. Система поддерживает четыре режима измерений: E/E, E/O, O/E и O/O, обеспечивая универсальность применения в различных областях оптической метрологии.

Прибор работает в диапазоне длин волн 1260–1630 нм и поддерживает использование как встроенных, так и внешних источников оптического излучения, что позволяет проводить испытания компонентов CWDM и DWDM систем. Низкий уровень шумов и широкий динамический диапазон обеспечивают высокую точность и повторяемость результатов измерений.

Преимущества:

• диапазон частот измерений до 67 ГГц;
• анализ устройств E/E, E/O, O/E и O/O;
• измерение АЧХ, ФЧХ и групповой задержки;
• поддержка технологий CWDM и DWDM;
• работа в диапазоне длин волн 1260–1630 нм;
• быстрый процесс калибровки;
• технология De-embedding для повышения точности;
• широкий динамический диапазон и низкий уровень шумов.

Анализаторы оптических компонентов серии 6433 для комплексной характеризации высокоскоростных оптоэлектронных устройств в диапазоне частот модуляции до 110 ГГц.

Анализаторы серии 6433 представляют собой интегрированное решение для измерения частотных характеристик оптоэлектронных компонентов. Приборы позволяют проводить измерения в четырех режимах (электро-электрическом, электро-оптическом, опто-электрическом и оптико-оптическом), определяя такие параметры, как АЧХ, ФЧХ и групповая задержка. Многооконный интерфейс (до 32 окон, 16 трасс) и набор команд SCPI для удаленного управления обеспечивают удобство анализа и интеграцию в автоматизированные измерительные стенды. Функции исключения влияния оснастки (де-эмбеддинг) и поддержка измерений балансных устройств делают анализатор мощным инструментом для разработки и тестирования современных фотонных компонентов, включая чипы. В качестве опций доступны расширенные функции, такие как рефлектометрия во временной области (TDR) и анализ спектра.

Технические характеристики:

Представлены обобщенные характеристики. Параметры зависят от конкретной модели.

• Диапазон частот модуляции: 10 МГц – 20 / 43.5 / 50 / 67 / 110 ГГц.
• Разрешение по частоте: 1 Гц.
• Рабочие длины волн (встроен. источник): 1310±10 нм, 1550±10 нм.
• Измеряемые параметры: Амплитудно-частотная характеристика (АЧХ), фазо-частотная характеристика (ФЧХ), групповая задержка, S-параметры.
• Относительная погрешность АЧХ: до ±2.7 дБ (для модели 110 ГГц).
• Режимы измерения: Электрооптический (Э/О), оптоэлектронный (О/Э), оптико-оптический (О/О), электро-электрический (Э/Э).
• Опциональные возможности: Четырехпортовые измерения, рефлектометрия (TDR), анализ спектра, непрерывная быстрая перестройка по длине волны.
• Габаритные размеры (Ш × В × Г): Основной блок: 475×525×660 мм; Модуль расширения: 97×73×236 мм (для модели 110 ГГц).
• Масса: до 80 кг.

Применение:

Анализ передающих устройств (Э/О): Определение ключевых динамических характеристик передающих устройств: измерение полосы пропускания (3 дБ), АЧХ/ФЧХ и групповой задержки. Типовые тестируемые устройства: электрооптические модуляторы, лазеры с прямой модуляцией (DML), трансимпедансные усилители (TIA) и передающие оптические сборки (TOSA).

Анализ приёмных устройств (О/Э): Комплексная характеризация высокоскоростных приёмных устройств, таких как PIN и лавинные (APD) фотодетекторы, а также приёмные оптические сборки (ROSA). Анализируется их частотный отклик для определения полосы пропускания и других параметров.

Анализ пассивных и активных оптических компонентов (О/О): Измерение частотной зависимости коэффициента передачи для пассивных устройств (фильтры, мультиплексоры), а также характеристик оптических усилителей (EDFA).

Тестирование фотонных интегральных схем (PIC): Благодаря функции исключения влияния оснастки (де-эмбеддинг), анализатор обеспечивает высокую точность измерений параметров фотонных интегральных схем (PIC) непосредственно на кристалле при помощи зондовых станций.

Автоматизированное тестирование: Наличие интерфейсов LAN/USB и набора команд SCPI позволяет интегрировать анализатор в автоматизированные производственные линии для потокового тестирования и контроля качества компонентов.