Оптический векторный анализатор Luna OVA 5100

Luna OVA 5100 (Optical Vector Analyzer) — высокоточный оптический векторный анализатор, предназначенный для комплексной характеризации пассивных оптических компонентов и фотонных устройств. Прибор обеспечивает измерение амплитудных и фазовых характеристик с чрезвычайно высоким спектральным разрешением, что делает его незаменимым инструментом для исследований в области фотоники, разработки компонентов ВОЛС и производства фотонных интегральных схем (PIC).

Анализатор использует технологию когерентной оптической рефлектометрии и позволяет одновременно измерять вносимые потери (Insertion Loss), возвратные потери (Return Loss), групповую задержку (Group Delay), дисперсию, поляризационно-зависимые потери (PDL) и поляризационно-модовую дисперсию (PMD). Благодаря высокой точности измерений система подходит для тестирования компонентов DWDM и CWDM сетей, оптических фильтров, волоконных брэгговских решеток (FBG), мультиплексоров AWG, резонаторов и других сложных фотонных устройств.

Luna OVA 5100 обеспечивает получение полной матрицы Джонса (Jones Matrix) исследуемого устройства, что позволяет проводить углубленный анализ поляризационных свойств оптических компонентов. Высокое спектральное разрешение и широкий динамический диапазон делают прибор эффективным решением для научных исследований, сертификационных испытаний и производственного контроля качества.

Система широко применяется в телекоммуникациях, фотонике, квантовых технологиях, разработке интегральной оптики и высокоскоростных оптических сетей передачи данных. Современное программное обеспечение обеспечивает автоматизацию измерений, визуализацию результатов и формирование подробных отчетов.

Преимущества:

• измерение амплитудных и фазовых характеристик;
• высокая точность анализа пассивных оптических компонентов;
• определение IL, RL, PDL, PMD и групповой задержки;
• получение полной матрицы Джонса (Jones Matrix);
• высокое спектральное разрешение;
• широкий динамический диапазон измерений;
• автоматизация испытаний и анализа данных;
• оптимизирован для фотоники и DWDM-систем.

Оптический векторный анализатор OVA 5100 для комплексного измерения всех ключевых характеристик оптических компонентов (потери, дисперсия, поляризация) за одно сканирование длительностью менее 3 секунд.

Luna OVA 5100 является прямой заменой предыдущей модели OVA 5000, обладая эквивалентным функционалом в более компактном и легком корпусе. За один проход перестраиваемого лазера прибор измеряет полную передаточную функцию (матрицу Джонса) и на её основе рассчитывает все ключевые характеристики: вносимые и возвратные потери (IL/RL), групповую задержку (GD), хроматическую (CD) и поляризационную модовую (PMD) дисперсию, а также поляризационно-зависимые потери (PDL). Интерферометрический метод обеспечивает высочайшую точность и скорость, что делает OVA 5100 оптимальным инструментом для анализа пассивных компонентов, фотонных интегральных схем (PIC) и специальных оптических волокон.

Технические характеристики:

Представлены обобщенные характеристики. Точные параметры зависят от режима измерений.

• Рабочий диапазон длин волн: 1525–1610 нм (модель OVA 5100) / 1270–1340 нм (модель OVA 5113).
• Время полного измерения: < 3 секунды для пассивных устройств.
• Динамический диапазон по вносимым потерям: до 80 дБ.
• Измеряемые параметры: IL, PDL, PMD (включая PMD 2-го порядка), CD, GD, RL, матрица Джонса, импульсный отклик.
• Погрешность измерения PDL: ±0.05 дБ.
• Погрешность измерения CD: ±10 пс/нм.
• Погрешность измерения PMD: ±0.08 пс.
• Максимальная длина тестируемого устройства: 150 м.
• Масса: 11.4 кг.
• Доступные опции: Рефлектометрия высокого разрешения (OFDR, 20 мкм), ПО для анализа поляризации, расширенный динамический диапазон.

Применение:

Комплексный анализ компонентов: Полное определение всех характеристик волоконно-оптических компонентов за одно измерение: ответвителей, мультиплексоров (AWG), волоконных брэгговских решеток (FBG), фильтров, усилителей и специальных оптических волокон.

Тестирование фотонных интегральных схем (PIC): Анализ планарных световодных схем (PLC) и устройств на основе кремниевой фотоники.

Рефлектометрия высокого разрешения (с опцией OFDR): Локализация и анализ точек отражения внутри миниатюрных оптических компонентов и волноводов с микронным разрешением и без мертвых зон.

Разработка и моделирование: Получение полной передаточной функции (матрицы Джонса) для верификации и уточнения математических моделей оптических устройств.