ATOMETRICS Цифровой микроскоп с увеличенной глубиной резкости

ATOMETRICS Цифровой микроскоп с увеличенной глубиной резкости представляет собой современную систему визуального контроля и оптической инспекции, предназначенную для исследования микроэлектронных компонентов, полупроводниковых пластин, печатных плат, проволочных соединений, тонкопленочных структур и высокоточных механических изделий. Оборудование обеспечивает получение четких изображений объектов со сложным рельефом благодаря технологии расширенной глубины резкости (Extended Depth of Field, EDF).

Технология увеличенной глубины резкости позволяет одновременно получать резкое изображение всех участков исследуемого объекта, находящихся на разных уровнях высоты. Это особенно важно при анализе микросхем, контактных площадок, Wire Bonding-соединений, MEMS-структур, паяных соединений и других изделий, имеющих сложную трехмерную геометрию.

Микроскоп оснащен цифровой камерой высокого разрешения, современной оптической системой и программным обеспечением для обработки изображений. Пользователь может выполнять измерение линейных размеров, анализ дефектов поверхности, документирование результатов контроля и создание отчетов. Высокое качество изображения способствует эффективному обнаружению трещин, сколов, царапин, загрязнений и других производственных дефектов.

Оборудование широко применяется в микроэлектронике, полупроводниковой промышленности, материаловедении, машиностроении, медицинской технике, научно-исследовательских лабораториях и центрах контроля качества. Цифровой микроскоп ATOMETRICS обеспечивает высокую производительность инспекционных операций и повышает точность анализа сложных объектов.

Преимущества:

• технология увеличенной глубины резкости (EDF);
• получение полностью сфокусированного изображения объектов со сложным рельефом;
• цифровая камера высокого разрешения;
• высокоточная оптическая инспекция микроэлектронных компонентов;
• измерение размеров и анализ дефектов;
• документирование результатов контроля;
• неразрушающий метод исследования;
• применение в микроэлектронике, фотонике и научных исследованиях.

Цифровой микроскоп с увеличенной глубиной резкости предназначен для визуального контроля, наблюдения и измерения объектов с выраженным рельефом поверхности. Прибор применяется в производственных, лабораторных и научно‑исследовательских условиях.

Микроскоп обеспечивает интеллектуальное формирование изображения с большой глубиной резкости, мгновенную автоматическую фокусировку и выполнение измерений и анализа по одной команде оператора.

Оптическая система включает более 50 конфигураций объективов, высокоразрешающий телецентрический объектив и механизм пятиосевого перемещения, что обеспечивает круговой обзор объекта с высоким разрешением без «слепых зон».

В приборе реализован специализированный алгоритм синтеза глубины резкости, обеспечивающий формирование детализированных изображений при увеличениях до 500× с высокой степенью реалистичности.

Основные особенности и характеристики:

• интеллектуальная визуализация с увеличенной глубиной резкости;
• мгновенная автоматическая фокусировка;
• круговой обзор объекта с высоким разрешением (до 360°);
• телецентрическая оптическая система;
• пятиосевая система перемещения;
• алгоритм синтеза глубины резкости;
• измерение и анализ параметров по одной команде оператора;
• высокая четкость и детализация изображения при больших увеличениях.

Области применения:

• электронная и полупроводниковая промышленность;
• контроль качества и дефектоскопия;
• прецизионная оптика и точное машиностроение;
• научно‑исследовательские лаборатории;
• медицинские и биотехнологические исследования;
• учебные и демонстрационные цели.

Программное обеспечение:

Программное обеспечение обеспечивает:

• управление режимами наблюдения и фокусировки;
• измерение линейных и угловых параметров;
• анализ изображений;
• сохранение и экспорт результатов наблюдений и измерений.